Testing Embedded System
Jain, Dr. Neelesh 2019 LAP LAMBERT Academic Publishing
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- Link zu diesem Datensatz
- https://d-nb.info/1192513169
- Titel
- Testing Embedded System
- Art des Inhalts
- Monographie
- Verfassangaben
- Dr. Neelesh Jain
- Autor
- Jain, Dr. Neelesh
- Auflage
- 1. Auflage
- Verlag
- Saarbrücken : LAP LAMBERT Academic Publishing [2019]
- Jahr
- Erscheinungsdatum: 2019
- Umfang/Format
- Online-Ressource, 260 Seiten
- ISBN/Einband/Preis
9783330331174- Online
- https://nbn-resolving.org/urn:nbn:de:101:1-2019080905222405010658
- Sprache
- eng
- Schlagwörter
- Anmerkungen
- Vom Verlag als Druckwerk on demand und/oder als E-Book angeboten
- Stand
- 09.08.2019 22:30
- Im Katalog seit
- 07.03.2026