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Supervised Descriptive Pattern Mining

Ventura, Sebastián ; Luna, José María 2018 Springer International Publishing

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Titel
Supervised Descriptive Pattern Mining
Art des Inhalts
Monographie
Autor(en)
  • Ventura, Sebastián
  • Luna, José María
Organisation(en)
  • Springer International Publishing
Auflage
1st edition 2018
Verlag
Cham : Springer International Publishing [2018]
Jahr
Erscheinungsdatum: 2018
Umfang/Format
Online-Ressource
ISBN/Einband/Preis
9783319981406
DOI
10.1007/978-3-319-98140-6
Online
https://doi.org/10.1007/978-3-319-98140-6
Sprache
eng
Schlagwörter
Anmerkungen
Lizenzpflichtig
Stand
08.03.2025 08:29
Im Katalog seit
07.03.2026

Beschreibung vom Verlag

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