Multi-run Memory Tests for Pattern Sensitive Faults
Mrozek, Ireneusz 2019 Springer International Publishing
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- https://d-nb.info/1162393238
- Titel
- Multi-run Memory Tests for Pattern Sensitive Faults
- Art des Inhalts
- Monographie
- Autor
- Mrozek, Ireneusz
- Organisation(en)
-
- Springer International Publishing
- Auflage
- 1st edition 2019
- Verlag
- Cham : Springer International Publishing [2019]
- Jahr
- Erscheinungsdatum: 2019
- Umfang/Format
- Online-Ressource
- ISBN/Einband/Preis
9783319912042- DOI
- 10.1007/978-3-319-91204-2
- Online
- https://doi.org/10.1007/978-3-319-91204-2
- Sprache
- eng
- Schlagwörter
-
- RAM testing
- memory diagnostics
- multi-run memory testing
- software testing
- test methods and hardware design
- (Springer Nature Subject Collection)SUCO11647: Engineering
- (Springer Nature Marketing Classification)B
- (Springer Nature Subject Code)SCT24068: Circuits and Systems
- (Springer Nature Subject Code)SCI13014: Processor Architectures
- (Springer Nature Subject Code)SCT24027: Electronics and Microelectronics, Instrumentation
- Anmerkungen
- Lizenzpflichtig
- Stand
- 07.03.2025 17:04
- Im Katalog seit
- 07.03.2026