Buchcover

X-Ray Structure Analysis

Siegrist, Theo 2021 De Gruyter

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Titel
X-Ray Structure Analysis
Art des Inhalts
Monographie
Verfassangaben
Theo Siegrist
Autor
Siegrist, Theo
Organisation(en)
  • Walter de Gruyter GmbH & Co. KG
Auflage
1. Auflage
Verlag
Berlin/Boston : De Gruyter [2021]
Jahr
Erscheinungsdatum: 2021
Umfang/Format
Online-Ressource, 250 Seiten
ISBN/Einband/Preis
9783110610925
Online
https://nbn-resolving.org/urn:nbn:de:101:1-2022021816464551983372
Sprache
eng
Schlagwörter
Stand
20.07.2025 08:31
Im Katalog seit
07.03.2026

Beschreibung vom Verlag

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