Parasitic RC estimation and defect prediction for embedded memory using machine learning
Maddela, Venkatesham ; Sinha, Sanjeet Kumar ; Parvathi, Muddapu ; Chander, Sweta
- Link zu diesem Datensatz
- https://d-nb.info/1378248880
- Titel
- Parasitic RC estimation and defect prediction for embedded memory using machine learning
- Art des Inhalts
- Teil eines Werks
- Verfassangaben
- by Venkatesham Maddela, Sanjeet Kumar Sinha, Muddapu Parvathi, Sweta Chander
- Autor(en)
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- Maddela, Venkatesham
- Sinha, Sanjeet Kumar
- Parvathi, Muddapu
- Chander, Sweta
- Organisation(en)
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- SpringerLink (Online service)
- Zeitliche Einordnung
- Erscheinungsdatum: 2025
- Umfang/Format
- 1 Online-Ressource.
- DOI
- 10.1007/s10470-025-02438-5
- Online
- https://doi.org/10.1007/s10470-025-02438-5
- Sprache
- eng
- Schlagwörter
- Frühere/spätere Titel
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- Enthalten in: Analog integrated circuits and signal processing
- Enthalten in: Analog integrated circuits and signal processing
- Enthalten in: Analog integrated circuits and signal processing
- Stand
- 06.10.2025 18:07
- Im Katalog seit
- 07.03.2026