XRD TEM EELS Studies on Memory Device Structures
Kurinec, S.K. ; Mukherjee, S. ; Devasia, A. ; Raoux, S. ; Jordan Sweet, J. ; MacMahon, D.
- Link zu diesem Datensatz
- https://d-nb.info/1364373440
- Titel
- XRD TEM EELS Studies on Memory Device Structures
- Art des Inhalts
- Teil eines Werks
- Autor(en)
-
- Kurinec, S.K.
- Mukherjee, S.
- Devasia, A.
- Raoux, S.
- Jordan Sweet, J.
- MacMahon, D.
- Zeitliche Einordnung
- Erscheinungsdatum: 2015
- Umfang/Format
- Online-Ressource
- Online
- https://www.helmholtz-berlin.de/pubbin/oai_publication?VT=1&ID=88598
- Sprache
- ger
- Schlagwörter
- Frühere/spätere Titel
-
- Enthalten in: In: In Proceedings of the 2015 Conference Frontiers of Characterization and Metrology for Nanoelectronics, Dresden, April 14 16, 2015, 2015, p. 47 49
- Enthalten in: Datenlieferant: Helmholtz Zentrum Berlin (HZB): Publications
- Enthalten in: In: In Proceedings of the 2015 Conference Frontiers of Characterization and Metrology for Nanoelectronics, Dresden, April 14 16, 2015, 2015, p. 47 49
- Enthalten in: Datenlieferant: Helmholtz Zentrum Berlin (HZB): Publications
- Enthalten in: In: In Proceedings of the 2015 Conference Frontiers of Characterization and Metrology for Nanoelectronics, Dresden, April 14 16, 2015, 2015, p. 47 49
- Enthalten in: Datenlieferant: Helmholtz Zentrum Berlin (HZB): Publications
- Stand
- 10.07.2025 08:12
- Im Katalog seit
- 07.03.2026