Generating Synthetic Layout Test Patterns using Deep Learning
Mahmoud, Adel ; El-Kharashi, M. Watheq ; Salama, Cherif
- Link zu diesem Datensatz
- https://d-nb.info/1356498000
- Titel
- Generating Synthetic Layout Test Patterns using Deep Learning
- Art des Inhalts
- Teil eines Werks
- Verfassangaben
- by Adel Mahmoud, M. Watheq El-Kharashi, Cherif Salama
- Autor(en)
-
- Mahmoud, Adel
- El-Kharashi, M. Watheq
- Salama, Cherif
- Organisation(en)
-
- SpringerLink (Online service)
- Zeitliche Einordnung
- Erscheinungsdatum: 2024
- Umfang/Format
- 1 Online-Ressource.
- DOI
- 10.1007/s10836-024-06138-2
- Online
- https://doi.org/10.1007/s10836-024-06138-2
- Sprache
- eng
- Schlagwörter
- Frühere/spätere Titel
-
- Enthalten in: Journal of electronic testing
- Enthalten in: Journal of electronic testing
- Enthalten in: Journal of electronic testing
- Stand
- 17.02.2025 18:14
- Im Katalog seit
- 07.03.2026