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Impact of Sample Preparation Approach on Transmission Electron Microscopy Investigation of Sputtered AlNi Multilayers Used for Reactive Soldering

Link zu diesem Datensatz
https://d-nb.info/1355377153
Titel
Impact of Sample Preparation Approach on Transmission Electron Microscopy Investigation of Sputtered AlNi Multilayers Used for Reactive Soldering
Art des Inhalts
Teil eines Werks
Autor(en)
  • Jiménez, Juan Jesús
  • Jaekel, Konrad
  • Pauly, Christoph
  • Schäfer, Christian
  • Bartsch, Heike
  • Mücklich, Frank
  • Morales, Francisco Miguel
Zeitliche Einordnung
Erscheinungsdatum: 2025
Umfang/Format
Online-Ressource
DOI
10.1002/adem.202570011
Online
https://doi.org/10.1002/adem.202570011
Sprache
eng
Frühere/spätere Titel
  • Enthalten in: Advanced engineering materials
  • Enthalten in: Advanced engineering materials
  • Enthalten in: Advanced engineering materials
Stand
14.02.2026 05:43
Im Katalog seit
07.03.2026

Beschreibung vom Verlag

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