Multiple-Constraint Driven System-on-Chip Test Time Optimization
Pouget, Julien ; Larsson, Erik ; Peng, Zebo
- Link zu diesem Datensatz
- https://d-nb.info/1351840339
- Titel
- Multiple-Constraint Driven System-on-Chip Test Time Optimization
- Art des Inhalts
- Teil eines Werks
- Verfassangaben
- by Julien Pouget, Erik Larsson, Zebo Peng
- Autor(en)
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- Pouget, Julien
- Larsson, Erik
- Peng, Zebo
- Organisation(en)
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- SpringerLink (Online service)
- Zeitliche Einordnung
- Erscheinungsdatum: 2005
- Umfang/Format
- 1 Online-Ressource.
- DOI
- 10.1007/s10836-005-2911-4
- Online
- https://doi.org/10.1007/s10836-005-2911-4
- Sprache
- eng
- Schlagwörter
- Frühere/spätere Titel
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- Enthalten in: Journal of electronic testing
- Enthalten in: Journal of electronic testing
- Enthalten in: Journal of electronic testing
- Stand
- 24.12.2024 21:37
- Im Katalog seit
- 07.03.2026