Natural Language Processing-Driven Microscopy Ontology Development

Bayerlein, Bernd ; Schilling, Markus ; Curran, Maurice ; Campbell, Carelyn E. ; Dima, Alden A. ; Birkholz, Henk ; Lau, June W. 2024 Bundesanstalt für Materialforschung und -prüfung (BAM)

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https://d-nb.info/1349716081

Titel

Natural Language Processing-Driven Microscopy Ontology Development

Art des Inhalts

Teil eines Werks

Verfassangaben

Bernd Bayerlein, Markus Schilling, Maurice Curran, Carelyn E. Campbell, Alden A. Dima, Henk Birkholz, June W. Lau

Autor(en)

• Bayerlein, Bernd
• Schilling, Markus
• Curran, Maurice
• Campbell, Carelyn E.
• Dima, Alden A.
• Birkholz, Henk
• Lau, June W.

Verlag

Berlin : Bundesanstalt für Materialforschung und -prüfung (BAM) [2024]

Jahr

Erscheinungsdatum: 2024

Umfang/Format

Online-Ressource

DOI

10.1007/s40192-024-00378-y

Online

https://doi.org/10.1007/s40192-024-00378-y

Sprache

eng

Schlagwörter

• Microscopy Ontology
• Knowledge Representation
• Semantic Interoperability
• Natural Language Processing
• Ontology Development

Frühere/spätere Titel

• Enthalten in: In: Integrating Materials and Manufacturing Innovation, S. 1-12
• Enthalten in: In: Integrating Materials and Manufacturing Innovation, S. 1-12
• Enthalten in: In: Integrating Materials and Manufacturing Innovation, S. 1-12

Stand

27.01.2026 03:33

Im Katalog seit

07.03.2026

Beschreibung vom Verlag

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