A test generation program for sequential circuits
Macii, Enrico ; Meo, Angelo R.
- Link zu diesem Datensatz
- https://d-nb.info/1317755855
- Titel
- A test generation program for sequential circuits
- Art des Inhalts
- Teil eines Werks
- Verfassangaben
- by Enrico Macii, Angelo R. Meo
- Autor(en)
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- Macii, Enrico
- Meo, Angelo R.
- Organisation(en)
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- SpringerLink (Online service)
- Zeitliche Einordnung
- Erscheinungsdatum: 1994
- Umfang/Format
- 1 Online-Ressource.
- DOI
- 10.1007/BF00971967
- Online
- https://doi.org/10.1007/BF00971967
- Sprache
- eng
- Schlagwörter
- Frühere/spätere Titel
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- Enthalten in: Journal of electronic testing
- Enthalten in: Journal of electronic testing
- Enthalten in: Journal of electronic testing
- Stand
- 01.02.2024 11:43
- Im Katalog seit
- 07.03.2026