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Correction to: X-ray peak broadening analysis and dielectric studies of BCT ceramics; comparison of sol–gel and solid solution methods

Titel
Correction to: X-ray peak broadening analysis and dielectric studies of BCT ceramics; comparison of sol–gel and solid solution methods
Art des Inhalts
Teil eines Werks
Verfassangaben
by Ali Khorsand Zak, Abdul Manaf Hashim
Autor(en)
  • Khorsand Zak, Ali
  • Hashim, Abdul Manaf
Organisation(en)
  • SpringerLink (Online service)
Zeitliche Einordnung
Erscheinungsdatum: 2023
Umfang/Format
Online-Ressource, 1 online resource.
DOI
10.1007/s10854-023-10774-3
Online
https://doi.org/10.1007/s10854-023-10774-3
Sprache
eng
Schlagwörter
Frühere/spätere Titel
  • Enthalten in: Journal of materials science / Materials in electronics
  • Enthalten in: Journal of materials science / Materials in electronics
  • Enthalten in: Journal of materials science / Materials in electronics
Stand
13.11.2025 08:06
Im Katalog seit
07.03.2026

Beschreibung vom Verlag

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