Structural Fault Based Specification Reduction for Testing Analog Circuits
Chang, Soon-Jyh ; Lee, Chung Len ; Chen, Jwu E.
- Link zu diesem Datensatz
- https://d-nb.info/1294614959
- Titel
- Structural Fault Based Specification Reduction for Testing Analog Circuits
- Art des Inhalts
- Teil eines Werks
- Verfassangaben
- by Soon-Jyh Chang, Chung Len Lee, Jwu E. Chen
- Autor(en)
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- Chang, Soon-Jyh
- Lee, Chung Len
- Chen, Jwu E.
- Organisation(en)
-
- SpringerLink (Online service)
- Zeitliche Einordnung
- Erscheinungsdatum: 2002
- Umfang/Format
- Online-Ressource
- DOI
- 10.1023/A:1020892721493
- Online
- https://doi.org/10.1023/A:1020892721493
- Sprache
- eng
- Schlagwörter
- Frühere/spätere Titel
-
- Enthalten in: Journal of electronic testing
- Enthalten in: Journal of electronic testing
- Enthalten in: Journal of electronic testing
- Stand
- 03.07.2023 18:11
- Im Katalog seit
- 07.03.2026