Deterministic Test Vector Compression/Decompression for Systems-on-a-Chip Using an Embedded Processor
Jas, Abhijit ; Touba, Nur A.
- Link zu diesem Datensatz
- https://d-nb.info/1294525581
- Titel
- Deterministic Test Vector Compression/Decompression for Systems-on-a-Chip Using an Embedded Processor
- Art des Inhalts
- Teil eines Werks
- Verfassangaben
- by Abhijit Jas, Nur A. Touba
- Autor(en)
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- Jas, Abhijit
- Touba, Nur A.
- Organisation(en)
-
- SpringerLink (Online service)
- Zeitliche Einordnung
- Erscheinungsdatum: 2002
- Umfang/Format
- Online-Ressource
- DOI
- 10.1023/A:1016505926570
- Online
- https://doi.org/10.1023/A:1016505926570
- Sprache
- eng
- Schlagwörter
- Frühere/spätere Titel
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- Enthalten in: Journal of electronic testing
- Enthalten in: Journal of electronic testing
- Enthalten in: Journal of electronic testing
- Stand
- 01.07.2023 04:28
- Im Katalog seit
- 07.03.2026