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Sensitivity vector fields for atomic force microscopes

Lim, Joosup ; Epureanu, Bogdan I.

Titel
Sensitivity vector fields for atomic force microscopes
Art des Inhalts
Teil eines Werks
Verfassangaben
by Joosup Lim, Bogdan I. Epureanu
Autor(en)
  • Lim, Joosup
  • Epureanu, Bogdan I.
Organisation(en)
  • SpringerLink (Online service)
Zeitliche Einordnung
Erscheinungsdatum: 2009
Umfang/Format
Online-Ressource
ISSN
1573269X
DOI
10.1007/s11071-009-9525-9
Online
https://doi.org/10.1007/s11071-009-9525-9
Sprache
eng
Schlagwörter
Frühere/spätere Titel
  • Enthalten in: Nonlinear dynamics
  • Enthalten in: Nonlinear dynamics
  • Enthalten in: Nonlinear dynamics
Stand
09.05.2023 21:35
Im Katalog seit
07.03.2026

Beschreibung vom Verlag

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