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CT-IoT: a combinatorial testing-based path selection framework for effective IoT testing

Hu, Linghuan ; Wong, W. Eric ; Kuhn, D. Richard ; Kacker, Raghu N. ; Li, Shuo

Titel
CT-IoT: a combinatorial testing-based path selection framework for effective IoT testing
Art des Inhalts
Teil eines Werks
Verfassangaben
by Linghuan Hu, W. Eric Wong, D. Richard Kuhn, Raghu N. Kacker, Shuo Li
Autor(en)
  • Hu, Linghuan
  • Wong, W. Eric
  • Kuhn, D. Richard
  • Kacker, Raghu N.
  • Li, Shuo
Organisation(en)
  • SpringerLink (Online service)
Zeitliche Einordnung
Erscheinungsdatum: 2021
Umfang/Format
Online-Ressource
ISSN
15737616
DOI
10.1007/s10664-021-10017-1
Online
https://doi.org/10.1007/s10664-021-10017-1
Sprache
eng
Schlagwörter
Frühere/spätere Titel
  • Enthalten in: Empirical software engineering
  • Enthalten in: Empirical software engineering
  • Enthalten in: Empirical software engineering
Stand
21.02.2022 18:03
Im Katalog seit
07.03.2026

Beschreibung vom Verlag

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