Materials Reliability in Microelectronics
Lloyd, James R. ; Thompson, Carl V.
- Link zu diesem Datensatz
- https://d-nb.info/1221845314
- Titel
- Materials Reliability in Microelectronics
- Art des Inhalts
- Teil eines Werks
- Verfassangaben
- by James R. Lloyd, Carl V. Thompson
- Autor(en)
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- Lloyd, James R.
- Thompson, Carl V.
- Organisation(en)
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- SpringerLink (Online service)
- Zeitliche Einordnung
- Erscheinungsdatum: 1993
- Umfang/Format
- Online-Ressource
- ISSN
19381425- DOI
- 10.1557/S0883769400039038
- Online
- https://doi.org/10.1557/S0883769400039038
- Sprache
- eng
- Schlagwörter
- Frühere/spätere Titel
-
- Enthalten in: Materials Research Society
- Enthalten in: Materials Research Society
- Enthalten in: Materials Research Society
- Stand
- 21.11.2020 20:52
- Im Katalog seit
- 07.03.2026