Applying ROBDDs for Logical Circuit Delay Testing
Matrosova, A. Yu ; Andreeva, V. V. ; Tychinskiy, V. Z. ; Goshin, G. G.
- Link zu diesem Datensatz
- https://d-nb.info/120461590X
- Titel
- Applying ROBDDs for Logical Circuit Delay Testing
- Art des Inhalts
- Teil eines Werks
- Verfassangaben
- by A. Yu. Matrosova, V. V. Andreeva, V. Z. Tychinskiy, G. G. Goshin
- Autor(en)
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- Matrosova, A. Yu
- Andreeva, V. V.
- Tychinskiy, V. Z.
- Goshin, G. G.
- Organisation(en)
-
- SpringerLink (Online service)
- Zeitliche Einordnung
- Erscheinungsdatum: 2019
- Umfang/Format
- Online-Ressource
- ISSN
15739228- DOI
- 10.1007/s11182-019-01784-y
- Online
- https://doi.org/10.1007/s11182-019-01784-y
- Sprache
- eng
- Schlagwörter
- Frühere/spätere Titel
-
- Enthalten in: Russian physics journal
- Enthalten in: Russian physics journal
- Enthalten in: Russian physics journal
- Stand
- 13.02.2026 12:20
- Im Katalog seit
- 07.03.2026