A variable-level automated defect identification model based on machine learning
Zhang, Yuwei ; Xing, Ying ; Gong, Yunzhan ; Jin, Dahai ; Li, Honghui ; Liu, Feng
- Link zu diesem Datensatz
- https://d-nb.info/1185461779
- Titel
- A variable-level automated defect identification model based on machine learning
- Art des Inhalts
- Teil eines Werks
- Verfassangaben
- by Yuwei Zhang, Ying Xing, Yunzhan Gong, Dahai Jin, Honghui Li, Feng Liu
- Autor(en)
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- Zhang, Yuwei
- Xing, Ying
- Gong, Yunzhan
- Jin, Dahai
- Li, Honghui
- Liu, Feng
- Organisation(en)
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- SpringerLink (Online service)
- Zeitliche Einordnung
- Erscheinungsdatum: 2019
- Umfang/Format
- Online-Ressource
- ISSN
14337479- DOI
- 10.1007/s00500-019-03942-3
- Online
- https://doi.org/10.1007/s00500-019-03942-3
- Sprache
- eng
- Schlagwörter
- Frühere/spätere Titel
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- Enthalten in: Soft computing
- Enthalten in: Soft computing
- Enthalten in: Soft computing
- Stand
- 30.05.2021 18:48
- Im Katalog seit
- 07.03.2026