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Total fault exposing potential based test case prioritization using genetic algorithm

Mishra, Deepti Bala ; Panda, Namita ; Mishra, Rajashree ; Acharya, Arup Abhinna

Titel
Total fault exposing potential based test case prioritization using genetic algorithm
Art des Inhalts
Teil eines Werks
Verfassangaben
by Deepti Bala Mishra, Namita Panda, Rajashree Mishra, Arup Abhinna Acharya
Autor(en)
  • Mishra, Deepti Bala
  • Panda, Namita
  • Mishra, Rajashree
  • Acharya, Arup Abhinna
Organisation(en)
  • SpringerLink (Online service)
Zeitliche Einordnung
Erscheinungsdatum: 2018
Umfang/Format
Online-Ressource
ISSN
25112112
DOI
10.1007/s41870-018-0117-0
Online
https://doi.org/10.1007/s41870-018-0117-0
Sprache
eng
Schlagwörter
Frühere/spätere Titel
  • Enthalten in: International journal of information technology
  • Enthalten in: International journal of information technology
  • Enthalten in: International journal of information technology
Stand
22.01.2026 05:12
Im Katalog seit
07.03.2026

Beschreibung vom Verlag

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