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Material testing by computer aided speckle interferometry

Wang, Y. V. ; Chen, D. J. ; Chiang, F. P.

Titel
Material testing by computer aided speckle interferometry
Art des Inhalts
Teil eines Werks
Verfassangaben
by Y. V. Wang, D. J. Chen, F. P. Chiang
Autor(en)
  • Wang, Y. V.
  • Chen, D. J.
  • Chiang, F. P.
Organisation(en)
  • SpringerLink (Online service)
Zeitliche Einordnung
Erscheinungsdatum: 1993
Umfang/Format
Online-Ressource
ISSN
17471567
DOI
10.1111/j.1747-1567.1993.tb00772.x
Online
https://doi.org/10.1111/j.1747-1567.1993.tb00772.x
Sprache
eng
Schlagwörter
Frühere/spätere Titel
  • Enthalten in: Experimental techniques
  • Enthalten in: Experimental techniques
  • Enthalten in: Experimental techniques
Stand
19.02.2018 17:48
Im Katalog seit
07.03.2026

Beschreibung vom Verlag

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