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Software defect prediction: do different classifiers find the same defects?

Bowes, David ; Hall, Tracy ; Petrić, Jean

Titel
Software defect prediction: do different classifiers find the same defects?
Art des Inhalts
Teil eines Werks
Verfassangaben
by David Bowes, Tracy Hall, Jean Petrić
Autor(en)
  • Bowes, David
  • Hall, Tracy
  • Petrić, Jean
Organisation(en)
  • SpringerLink (Online service)
Zeitliche Einordnung
Erscheinungsdatum: 2017
Umfang/Format
Online-Ressource
ISSN
15731367
DOI
10.1007/s11219-016-9353-3
Online
https://doi.org/10.1007/s11219-016-9353-3
Sprache
eng
Schlagwörter
Frühere/spätere Titel
  • Enthalten in: Software quality journal
  • Enthalten in: Software quality journal
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Stand
04.03.2017 02:49
Im Katalog seit
06.03.2026

Beschreibung vom Verlag

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