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Multi-variable process data compression and defect isolation using wavelet PCA and genetic algorithm

Chaouch, Hanen ; Najeh, Tawfik ; Nabli, Lotfi

Titel
Multi-variable process data compression and defect isolation using wavelet PCA and genetic algorithm
Art des Inhalts
Teil eines Werks
Verfassangaben
by Hanen Chaouch, Tawfik Najeh, Lotfi Nabli
Autor(en)
  • Chaouch, Hanen
  • Najeh, Tawfik
  • Nabli, Lotfi
Organisation(en)
  • SpringerLink (Online service)
Zeitliche Einordnung
Erscheinungsdatum: 2016
Umfang/Format
Online-Ressource
ISSN
14333015
DOI
10.1007/s00170-016-9774-y
Online
https://doi.org/10.1007/s00170-016-9774-y
Sprache
eng
DDC-Klasse(n)
Schlagwörter
Frühere/spätere Titel
  • Enthalten in: ˜Theœ international journal of advanced manufacturing technology
  • Enthalten in: ˜Theœ international journal of advanced manufacturing technology
  • Enthalten in: ˜Theœ international journal of advanced manufacturing technology
Stand
17.02.2026 04:59
Im Katalog seit
06.03.2026

Beschreibung vom Verlag

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