Instruction-Vulnerability-Factor-Based Reliability Analysis Model for Program Memory
Chen, Qingyu ; Chen, Li ; Wang, Haibin ; Wu, Longsheng ; Li, Yuanqing ; Zhao, Xing ; Chen, Mo
- Link zu diesem Datensatz
- https://d-nb.info/1120652707
- Titel
- Instruction-Vulnerability-Factor-Based Reliability Analysis Model for Program Memory
- Art des Inhalts
- Teil eines Werks
- Verfassangaben
- by Qingyu Chen, Li Chen, Haibin Wang, Longsheng Wu, Yuanqing Li, Xing Zhao, Mo Chen
- Autor(en)
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- Chen, Qingyu
- Chen, Li
- Wang, Haibin
- Wu, Longsheng
- Li, Yuanqing
- Zhao, Xing
- Chen, Mo
- Organisation(en)
-
- SpringerLink (Online service)
- Zeitliche Einordnung
- Erscheinungsdatum: 2016
- Umfang/Format
- Online-Ressource
- ISSN
15730727- DOI
- 10.1007/s10836-016-5624-y
- Online
- https://doi.org/10.1007/s10836-016-5624-y
- Sprache
- eng
- DDC-Klasse(n)
- Schlagwörter
- Frühere/spätere Titel
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- Enthalten in: Journal of electronic testing
- Enthalten in: Journal of electronic testing
- Enthalten in: Journal of electronic testing
- Stand
- 02.12.2016 21:31
- Im Katalog seit
- 06.03.2026