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Robust algorithms for high quality test pattern generation using Boolean satisfiability

Eggersglüß, Stephan

Titel
Robust algorithms for high quality test pattern generation using Boolean satisfiability
Art des Inhalts
Monographie
Verfassangaben
Stephan Eggersglüß
Autor
Eggersglüß, Stephan
Zeitliche Einordnung
Erscheinungsdatum: 2010
Umfang/Format
VIII, 182 S.
Online
https://d-nb.info/1008951242/04
Sprache
eng
Anmerkungen
Bremen, Univ., Diss., 2010
Stand
02.12.2017 18:33
Im Katalog seit
06.03.2026

Beschreibung vom Verlag

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