„Testmuster“

Suchergebnisse

1.000+ Treffer

• Effiziente Erfüllbarkeitsalgorithmen für die Generierung von Testmustern Efficient Satisfiability Solving Algorithms for Test Pattern Generation
  Drechsler, Rolf ; Eggersglüß, Stephan ; Fey, Görschwin ; Schlöffel, Jürgen ; Tille, Daniel
• Testgenerierung aus Spezifikationen in Estelle und SDL
  Henniger, Olaf 2003 Shaker
• Test digitaler Schaltkreise
  Eggersglüß, Stephan ; Fey, Görschwin ; Polian, Ilia 2014 De Gruyter
• Test digitaler Schaltkreise
  Eggersglüß, Stephan ; Fey, Görschwin ; Polian, Ilia 2014 De Gruyter
• Testverfahren in der Mikroelektronik – Methoden und Werkzeuge
  Daehn, Wilfried 1997 Springer Berlin Heidelberg
• Retargierbare Compilierung von Selbsttestprogrammen digitaler Prozessoren mittels Constraint-logischer Programmierung
  Bieker, Ulrich 1995 Shaker
• Parallelisierung der automatischen Testmustergenerierung in sequentiellen Schaltungen
  Krauss, Peter A. 1995 Shaker
• Datenstrukturen und Algorithmen zu Testzwecken
  Hahn, Ralf 1995 VDI-Verl.
• Integrating System and Process Characteristics into Regression Test Optimization
  Elsner, Daniel Valentin ; Pretschner, Alexander ; Le Traon, Yves ; Marinov, Darko 2023 Universitätsbibliothek der TU München
• Automatic test Case generation for PLC software
  Simon, Hendrik ; Kowalewski, Stefan ; Weyrich, Michael 2023 Universitätsbibliothek der RWTH Aachen
• Testinstrumente und Testdatenanalyse zur Verarbeitung von Unsicherheiten in Logikblöcken hochintegrierter Schaltungen – von Alexander Sprenger ; Erster Gutachter: Prof. Dr. Sybille Hellebrand, Zweiter Gutachter: Prof. Dr. Marco Platzner
  Sprenger, Alexander 2023 Universitätsbibliothek
• Testing the Safe Behavior of Unmanned Aerial Vehicles with Scenario-Based Testing
  Schmidt, Tabea Ruth Jasmin ; Pretschner, Alexander ; Leutenegger, Stefan 2023 Universitätsbibliothek der TU München
• Verifikation softwareintensiver Fahrwerksysteme
  Hellhake, Dominik ; Wagner, Stefan 2023 Universitätsbibliothek der Universität Stuttgart
• Quality-Aware Learning to Prioritize Test Cases
  Omri, Safa ; Sinz, Carsten ; Schaefer, Ina 2022 KIT-Bibliothek
• Automatische Testdatengenerierung zur Absicherung fehlerbehafteter reaktiver Automatisierungssysteme
  Kormann, Benjamin ; Siemers, Christian 2016 Technische Universität Clausthal
• Integrierte Architektur für das Testen und Debuggen von System-on-Chips
  Ludewig, Ralf 2006 Shaker
• Code Coverage Test Case Prioritization for Regression Testing Using Non-Deterministic Approach
  Mayan, J. Albert 2025 GRIN Verlag
• Code Coverage Test Case Prioritization for Regression Testing Using Non-Deterministic Approach
  Mayan, J. Albert 2025 GRIN Verlag
• Zur Berechnung von Testsignalen für nichtlineare analoge Schaltungen unter Verwendung von Methoden der Optimalsteuerungstheorie
  Burdiek, Bernard 2005 Shaker
• Verification-based software-fault detection
  Gladisch, Christoph ; Beckert, B. 2011 KIT Scientific Publishing