„Testbarkeit“
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Testverfahren in der Mikroelektronik – Methoden und Werkzeuge
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Semantik modellieren und kalibrieren – Selektionsräume, Geltung und Verantwortung in formalen Systemen
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Schriften zur Ordnungstheorie komplexer Systeme/Semantik modellieren und kalibrieren – Selektionsräume, Geltung und Verantwortung in formalen Systemen
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Ein Prozessorfeld mit On-line-Genauigkeitssteuerung und -Test für die schnelle Signalverarbeitung
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Elektrische Charakterisierung mikroelektronischer Bauelemente mittels der Rasterkraftmikroskopie
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Modelling methods for testability analysis of analog integrated circuits based on pole-zero analysis
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Qualität und Testbarkeit hochintegrierter Schaltungen – Qualitätssicherung durch regelbasierte Systeme
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Efficient programmable deterministic self-test
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On the test complexity of VLSI systems
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Der testfreundliche Entwurf asynchroner Schaltungen
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EXOR-basierte Logiksynthese mit Kronecker Functional Decision Diagrams
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Aktive Siliziumträger zur Verbesserung der Prüfbarkeit von Multichip-Systemen
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A BIST (built-in self-test) strategy for mixed-signal integrated circuits
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Modelling methods for testability analysis of analog integrated circuits based on pole-zero analysis
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VLSI Design and Test – 17th International Symposium, VDAT 2013, Jaipur, India, July 27-30, 2013, Revised Selected Papers
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Integrated tools for automatic design for testability
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Weighted random patterns with multiple distributions
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Multiple distributions for biased random test patterns
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Automatisierung des Entwurfs vollständig testbarer Schaltungen
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The design of random-testable sequential circuits