„Testmustergenerierung“

Suchergebnisse

131 Treffer

• Hierarchische Mehr-Ebenen-Fehlersimulation mit Modellen der Schalter-Ebene
  Meyer, Wolfgang 1994 Oldenbourg
• Methoden zum automatischen Test von digitalen, analogen und Mixed-Signal-Schaltungen
  Schmitz, Christian 1994 VDI-Verl.
• Partitionierung und Analyse statischer, digitaler CMOS-Schaltungen auf der Schalterebene zur Vorbereitung einer Mixed-Level-Testgenerierung
  Hübner, Uwe 1994 Oldenbourg
• Ein einheitlicher Ansatz zur Verifikation und Testerzeugung für digitale Schaltungen mit temporaler Logik
  Kropf, Thomas 1993 VDI-Verl.
• Zur on-chip Testmustergenerierung für den Elektronenstrahltest
  Gross, Josef 1993 VDI-Verl.
• Automatische Testmustergenerierung in synchronen sequentiellen Schaltungen
  Auth, Elisabeth 1992 VDI-Verl.
• Test pattern generation and verification for logic circuits – an implication graph based approach
  Tafertshofer, Paul 2001 Hieronymus
• The self-testing COTS components (STECC) method
  Beydeda, Sami
• Modellierung digitaler Schaltungen mittels neuronaler Netze für die Testmustergenerierung
  Krenzer, Torsten
• Data compression techniques for concurrent error detection and built-in self test
  Tarnick, Steffen
• Testmustergenerierung und Fehlersimulation in digitalen Schaltungen mit hoher Komplexität
  Schulz, Michael H.
• A methodology for automated analysis of application specific processor models with respect to test generation
  Lüthje, Olaf 2005 Shaker
• Layoutabhängige Fehleranalyse und Testsynthese integrierter CMOS-Schaltungen
  Jacomet, Marcel 1991 Hartung-Gorre
• Test synchroner Schaltwerke auf der Basis partieller Prüfpfade
  Kunzmann, Arno 1989 VDI-Verl.
• Verfahren zur Testmustererzeugung für statische CMOS-Schaltnetze
  Schäfer, Manfred 1989 VDI-Verl.
• Testmustererzeugung für digitale Schaltungen mit gesteuerten Zählern
  Wahl, Michael 1988 VDI-Verl.
• Testmustergenerierung und Fehlersimulation in digitalen Schaltungen mit hoher Komplexität
  Schulz, Michael H. 1988 Springer
• Model-based ideal testing of sequential systems
  Kilincceker, Onur 2024 Universitätsbibliothek
• Model based test generation for repair and its application to vehicle diagnosis
  Malik, Andreas 2002 Logos-Verl.
• Novel approaches for accelerated analog fault simulation
  Dhifi, Mustapha 2003 Shaker