„electron diffraction“

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• Probenpräparation für die Rückstreuelektronen-Kikuchi-Beugung (Electron Backscatter Diffraction, EBSD) - Teil Il: Keramiken/Specimen Preparation for Electron Backscatter Diffraction (EBSD) - Part Il: Ceramics
  Katrakova, Danka ; Mücklich, Frank
• Nachweis kleiner Restaustenitgebiete in TRIP-Stahl durch ortsaufgelöste Elektronen-Rückstreubeugung/The Determination of Small Areas of Retained Austenite in TRIP-Steels Using High Resolution Electron Back Scattering Diffraction
  Wendrock, H. ; Richter, J. ; Güth, A.
• Probenpräparation für die Rückstreuelektronen-Kikuchi-Beugung (Electron Backscatter Diffraction, EBSD)/Specimen Preparation for Electron Backscatter Diffraction — Part I: Metals
  Katrakova, Danka ; Mücklich, Frank
• W-Einkristallprüfung und -Bruchflächenuntersuchung mit Elektronenbeugung (ECP) am REM The Investigation of Tungsten Single Crystals and Their Fracture Surfaces by Electron Diffraction (ECP) in the SEM
  Riedle, Joachim ; Dennochweiler, Rita ; Opielka, Horst
• Ultrafast dynamics of ferroelectric polarization of NbOI2 captured with femtosecond electron diffraction
  Wang, Yibo ; Hossain, Md Sazzad ; Li, Tianlin ; Xiong, Yanwei ; Le, Cuong ; Kuebler, Jesse ; Raghavan, Nina ; Fernandez-Ballester, Lucia ; Hong, Xia ; Sinitskii, Alexander ; Centurion, Martin
• Korrektur systematischer Fehler in Elektronenbeugungsaufnahmen nach Boersch/Correction of Systematic Errors in Electron Diffraction Patterns According to Boersch
  Dietzmann, P. ; Vöhse, H.
• Convergent-Beam Electron Diffraction by Beam-Rocking Method/Convergent-Beam-Elektronenbeugung nach dem Beam-Rocking-Verfahren
  Tanaka, Michiyoshi
• The Application of the Electron Diffraction Technique to the Study of Thin Films on Iron/Die Untersuchung von dünnen Schichten auf Eisen mit Hilfe der Elektronenbeugung
  Olmedo, Ana Maria
• Rechnergestützte Indizierung von Elektronenbeugungsaufnahmen/Computer Assisted Indexing of Electron Diffraction Patterns
  Griem, Walter ; Schwaab, Paul
• Das Mehrdeutigkeitsproblem der Elektronenbeugung/Ambiguity Problems in the Indexing of Electron Diffraction Patterns
  Griem, Walter ; Schwaab, Paul
• Zur Bestimmung der Orientierung kubischer Kristalle bezüglich beliebiger Raumrichtungen mit Hilfe der Selected Area Diffraction (SAD)-Methode im Rasterelektronenmikroskop/The Determination of the Orientation of Cubic Crystals Relative to any Desired Direction Using Electron Channelling Patterns in the Scanning Electron Microscope
  Klaffke, Dieter
• Different Analyses of Same Electron Diffraction Pattern (Coincidence Ambiguity)/Mehrdeutige Auswertung von Elektronenbeugungsdiagrammen (Koinzidenz-Zweideutigkeit)
  Samudra, Anant V. ; Johari, Om ; Heimendahl, Manfred von
• Elektronenbeugungsuntersuchungen an einem nioblegierten Baustahl mit niedrigem Kohlenstoffgehalt/Electron Diffraction Investigations on a Low-Carbon Niobium Alloy Structural Steel
  Schwaab, Paul ; Langenscheid, Gerhard
• Genauigkeit und Eindeutigkeit der kristallographischen Orientierungsbestimmung mittels Elektronenbeugung/Preciseness and Uniqueness of Crystallographic Orientation Determination by Electron Diffraction
  Von Heimendahl, Manfred
• Die Herstellung von Vanadium-Dünnschliffen für Elektronenbeugungs- und elektronenmikroskopische Untersuchungen/A Method of Preparing Thin Foils of Vanadium for Electron Diffraction Studies or Electron Microscopy
  Godel, Dieter ; Steeb, Siegfried
• Influence of magnetic field on electron beam-induced Coulomb explosion of gold microparticles in transmission electron microscopy
  Feng, Wen ; Gemming, Thomas ; Giebeler, Lars ; Qu, Jiang ; Weinel, Kristina ; Agudo Jácome, Leonardo ; Büchner, Bernd ; González-Martínez, Ignacio 2024 Bundesanstalt für Materialforschung und -prüfung (BAM)
• Impact of scan strategy on principal stresses in laser powder bed fusion
  Schröder, Jakob ; Fritsch, Tobias ; Luzin, Vladimir ; Ferrari, Bruno ; Simón-Muzás, Juan ; Evans, Alexander ; Bruno, Giovanni 2024 Bundesanstalt für Materialforschung und -prüfung (BAM)
• Effect of stacking fault energy on the thickness and density of annealing twins in recrystallized FCC medium and high-entropy alloys
  Schneider, Mike ; Couzinié, Jean-Philippe ; Shalabi, Amin ; Ibrahimkhel, Farhad ; Ferrari, Alberto ; Körmann, Fritz ; Laplanche, Guillaume 2025 Bundesanstalt für Materialforschung und -prüfung (BAM)
• Effect of adsorbed Sn on Ge diffusivity on Si (111) surface
  Dolbak, Andrey ; Olshanetsky, Boris
• Ge diffusion on Si surfaces
  Dolbak, Andrey ; Olshanetsky, Boris